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晶硅電池隱裂檢PECVD鍍膜檢測(cè)模塊

主要用于硅片來(lái)料隱性裂紋等缺陷的檢測(cè)

檢測(cè)工位：
鍍膜段


檢測(cè)內(nèi)容：
色差、色斑、亮斑、臟污、過(guò)刻、油污、卡點(diǎn)燒焦、劃傷、崩邊、缺角、針孔、尺寸、白斑、手指印等

下載資料
參數(shù)性能

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
  • 配備深度學(xué)習(xí)功能，將缺陷的標(biāo)準(zhǔn)交給生產(chǎn)商
  • 配備標(biāo)準(zhǔn)WEB、SQL接入口
  • 不停頓成像模式、不停頓剔除NG片
  • 靈活、可定義的分選標(biāo)準(zhǔn)
  • 定制化工程方案
缺陷圖例

  • PE 臟污

  • PE 碎片

  • PE 發(fā)紅色差

  • PE 發(fā)白色差